【儀器網(wǎng) 日立】 日立新品!熒光分布成像系統(tǒng)---測定萬圣節(jié)貼紙
剛剛過去的BCEIA大會,日立發(fā)布了的熒光分布成像系統(tǒng)(EEM View),今天就用它來測定萬圣節(jié)必不可少的南瓜貼紙。
EEM View是日立創(chuàng)新在熒光分光光度計中加入CMOS相機的系統(tǒng),能夠同時獲得樣品的圖像和
光譜信息,突出亮點是可以獲得樣品圖像任意區(qū)域的光譜性能。
南瓜貼紙光譜信息鑒賞
各式各樣的南瓜貼紙中含有大量熒光粉,眾所周知,這種貼紙暴露在黑暗中會發(fā)出熒光。
如圖所示便是這次鑒賞南瓜頭貼紙的熒光分布成像系統(tǒng),從圖中可以清晰看到新附件的結(jié)構(gòu),CMOS相機位于積分球下方,樣品安放在積分球上方,入射光經(jīng)過積分球漫反射獲得均勻光源,激發(fā)樣品產(chǎn)生熒光。
總結(jié)
一般的熒光分光光度計測得的是樣品區(qū)域表面平均化后的信息,只能獲得一條熒光光譜,而日立熒光分布成像系統(tǒng)能夠同時獲取樣品不同位置的光譜信息,有利于探究樣品表面的光學性能分布。
日立高新技術(shù)以‘讓世界充滿活力’為宗旨,致力于新技術(shù)的融合與開發(fā),這次推出的新品熒光分布成像系統(tǒng)將對油墨、材料、化工、涂料以及LED等領(lǐng)域帶來新的啟發(fā),新的探索方法。
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