JW-BK122F型 比表面及孔徑分析儀
精微高博是比表面積測定儀的廠商,精微高博比表面積測定儀一并榮獲中國*測試證書,*及CE認(rèn)證并且還有*的產(chǎn)品是通過**
精微高博比表面儀具有真空系統(tǒng)，可以進(jìn)行精確的超微孔孔徑分布測試。
比表面積測定儀功能
比表面測定： BET（單點、多點）比表面、Langmuir比表面、外表面測定；
BJH孔徑分布測定： 總孔體積、平均孔徑、孔容/孔徑的微分與積分分布；
微孔常規(guī)分析： 微孔總孔體積、總內(nèi)表面積（t-圖、D&R、MP等）
微孔孔徑分布分析： 氮分壓10-8 - 10-1范圍的等溫吸附曲線測定 0.35 - 2nm微孔孔徑分布測試（HK、FS、NLDFT法
比表面積測定儀技術(shù)參數(shù)
比表面積測定儀原理方法： 低溫氮吸附，靜態(tài)容量法
比表面積測定儀吸附氣體： 高純氮氣，也可用氪、氦、二氧化碳等其他氣體
比表面積測定儀極限真空： ≤ 10-6 Pa （ 7.5×10-9 Torr）
比表面積測定儀氮氣分壓： 1×10-8 –0.995
比表面積測定儀控制精度： 測試壓力點控制zui小間隔可小于0.1 KPa （0.75 Torr） ，測試壓力點可多達(dá)一千個
多級壓力傳感器壓力測試精度達(dá)0.0001Pa （7.5×10-7 Torr）
10-8-10-1范圍測試壓力點大于50點
比表面積測定儀測試范圍： 比表面 ≥ 0.005 M2/g，無規(guī)定上限
介孔孔徑分析 2 - 400nm
微孔孔徑分析0.35 - 2nm
比表面積測定儀測試精度： ≤±1.5%
0.35-2nm 微孔zui可幾孔徑重復(fù)誤差 ≤0.01nm
比表面積測定儀測試效率： 多點BET比表面每樣平均20min
孔徑分析時間隨材質(zhì)不同各異
比表面積測定儀預(yù) 處 理： 兩樣品同位處理，真空低于0.1Pa, 溫度50 - 400℃，±1℃
比表面積測定儀軟件： BET（單點、多點）、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R、
HK、FS、NLDFT等
比表面積測定儀特色
◎ 比表面儀具有國內(nèi)*可以精確測定微孔孔徑分布的儀器，控制和測試精度達(dá)到*水平，
工作站數(shù)量可根據(jù)用戶要求單獨設(shè)計、制造，可以代替進(jìn)口；
◎ 比表面儀具有真空度高，比表面和孔徑分析的范圍更寬，精度更高；
◎ 比表面儀具有*的抽氣與充氣速度精密控制技術(shù)，保證了測試的準(zhǔn)確性和安全性；
◎ 比表面儀具有*的液氮面多途徑控制與校正技術(shù)，連續(xù)測試10小時也不需添加液氮；
◎ 比表面儀具有微孔常規(guī)測試有完善的標(biāo)準(zhǔn)等溫線數(shù)據(jù)庫和規(guī)范的分析方法，國內(nèi)；
◎ 比表面儀具有國內(nèi)*擁有微孔分布測試的軟件技術(shù)（HK、FS、NLDFT等）
◎ 比表面儀具有軟件功能齊全、界面友好、操作方便、實時顯示樣品的吸、脫附壓力變化及平衡過程；
◎ 比表面儀具有試驗全過程自動化、智能化控制，長時間運行可以無人職守；
靜態(tài)容量法比表面測試儀特點之真密度測試：
技術(shù)參數(shù)：
JW-BK系列靜態(tài)容量法比表面及孔徑分析儀，適用于各種粉體材料、固體材料等的真密度分析，*的高精度真密度測試功能，測試時間不超過3分鐘/次，連續(xù)測試次數(shù)用戶可以自行定義，zui高次數(shù)可達(dá)10次。
★ 重復(fù)性：± 0.015 %；
★ 精確度：± 0.02 %；
★ 測試分辨率：0.00001 g/cm3
