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簡介：KLA接觸式探針臺階儀D-600，可測量納米級至1200um臺階高度，并可分析薄膜表面粗糙度、波紋度、應(yīng)力。且其具有5.0A(1σ)或0.1%臺階高度重復(fù)性以及亞埃級的分辨率。

簡介：產(chǎn)品描述：薄膜厚度指的是基片表面和薄膜表面的距離，而實際上，薄膜的表面是不平整，不連續(xù)的，且薄膜內(nèi)部存在著針孔、微裂紋、纖維絲、雜質(zhì)、晶格缺陷和表面吸附分子等。

簡介：產(chǎn)品描述：DektakXTL探針式輪廓儀系統(tǒng)可容納多大350mm*350mm的樣品

簡介：產(chǎn)品描述：DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能。

簡介：

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簡介：南通博爾德機電科技有限公司自主研發(fā)、生產(chǎn)國民體質(zhì)監(jiān)測及學(xué)生體質(zhì)健康測試器材,電火花機床及配套設(shè)備。產(chǎn)品名稱：電火花硬質(zhì)合金加工回路，電火花手持式打絲錐機，握力計,*,臺階指數(shù)測試儀,體重秤,身高計...

簡介：KLATencor是世界上zui*的微電子和半導(dǎo)體領(lǐng)域設(shè)備供應(yīng)商。Alpha-StepIQ是其第八代臺階儀。主要應(yīng)用于薄膜厚度測量、樣品表面形貌測量、薄膜應(yīng)力測量、樣品表面粗糙度/波紋度測量、以及...

簡介：該系統(tǒng)利用掃描探針顯微鏡光杠桿位移檢測技術(shù)和超平整參照面-大型樣品臺掃描技術(shù)，并與壓電陶瓷(PZT)掃描*結(jié)合，可以再不喪失精度的情況下，即得到超大樣品整體三維輪廓圖，又呈現(xiàn)局部三維形貌像。其中樣...

簡介：掃描三維表面輪廓儀是用于表面結(jié)構(gòu)測量和表面形貌分析的一款測量計量型設(shè)備。既可以用于科學(xué)研究，也可以用于工業(yè)產(chǎn)品的檢測。1、三維表面結(jié)構(gòu)：粗糙度,波紋度，表面結(jié)構(gòu)，缺陷分析，晶粒分析等2、二維圖像分...