SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀
作為2010年3月推出的納米粒子解析裝置， SZ-100 具有諸多優(yōu)異性能：
●超小體積設(shè)計(jì)，將解析納米尺寸重要的三要素(粒子直徑、Zeta 電位、分子量測定)的測定囊括于一身。
●從 PPM 級的低濃度到百分之幾十的高濃度樣品，都能夠在保持原液狀態(tài)下進(jìn)行測量。
●微小容量電泳樣品池是 HORIBA Scientific 獨(dú)自研發(fā)，可以測定取樣調(diào)查僅100μL的 Zeta 電位。
●適合膠質(zhì)粒子、機(jī)能性納米粒子材料、高分子、膠束、核糖體、納米囊等廣泛應(yīng)用。
●操作簡單，進(jìn)樣、設(shè)定參數(shù)后，只要按開始按鈕即可得到測量結(jié)果。
儀器簡介：
SZ-100 是HORIBA Scientific 推出的納米粒子解析裝置，可更高靈敏度、高精度地評價(jià)單一納米粒子，并能*解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)。該儀器被廣泛應(yīng)用于陶瓷粒子、金屬納米粒子、石炭、制藥、病毒、顏料和涂料、化妝品、聚合物、食品和CMP 等的檢測。
高靈敏度、高精度的測量
*表征單一體系納米尺度粒子
*解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)
SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀技術(shù)參數(shù)：
●粒子直徑測定
超寬動態(tài)光散射測量范圍: 0.3nm——8000nm
通過采用與NEDO國家項(xiàng)目共同開發(fā)的相關(guān)器，實(shí)現(xiàn)高性能化。
在單一納米粒子光學(xué)系統(tǒng)中，采用更低雜散光90°檢測光學(xué)系統(tǒng)。
雙光路系統(tǒng)（90°和173°）適用于更寬濃度范圍的樣品測量，可以進(jìn)行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等低濃度樣品的測定。
●Zeta電位測定
通過安裝HORIBA自主研發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)微型樣品池，可以測定僅100μL的樣品。
SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀主要特點(diǎn)：
●超小體積設(shè)計(jì)
● 可測納米粒子的三個(gè)重要要素——粒子直徑、Zeta電位和分子量。
●樣品濃度從PPM到百分之幾十，SZ-100都能在原液狀態(tài)下取樣和測定。
●HORIBA自主研發(fā)的微量電泳樣品池， 可以測定僅100μL的Zeta電位。
●廣泛應(yīng)用于膠質(zhì)粒子、 機(jī)能性納米粒子、 高分子、膠束、 核糖體、 納米囊等的測定。
●操作簡單，進(jìn)樣、設(shè)定參數(shù)后，只要按開始按鈕即可得到測量結(jié)果。
SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀應(yīng)用范圍：
● 陶瓷粒子 ● 金屬納米粒子 ● 碳黑 ● 制藥 ● 病毒 ● 涂料
● 化妝品 ● 聚合物 ● 食品 ● ＣＭＰ● 顏料、油墨
