Contour GT 系列光學(xué)輪廓儀利用白光干涉來測量納米級至微米級的表面形貌，并且具有業(yè)界Z大視場下的Z高垂直分辨率。

    Bruker Contour GT 系列光學(xué)輪廓儀

Bruker Contour GT 系列光學(xué)輪廓儀利用白光干涉來測量納米級至微米級的表面形貌，并且具有業(yè)界zui大視場下的zui高垂直分辨率。儀器具備多種倍率物鏡（1.25倍-100倍），可以表征具有不同表面形狀和結(jié)構(gòu)的樣品。而且在任何放大倍數(shù)下，系統(tǒng)的縱向范圍都能夠達(dá)到亞-埃至毫米級，其靈活性*。Bruker技術(shù)-高亮LED雙光源照明-使測量結(jié)果不管在科研還是工業(yè)環(huán)境中都具有超高的可靠性和可重復(fù)性。Contour GT系列擁有同類產(chǎn)品*的易用性：簡潔的操作界面通過對測量和數(shù)據(jù)獲取過程的簡化大大提高了系統(tǒng)和人力效率；*的可視工作流程工具提供了直觀的分析選項。Contour GT系列可廣泛的應(yīng)用于：精密機械，光伏材料，電子材料，航空航天，光學(xué)材料和科研等領(lǐng)域。

 Bruker Contour GT 系列

Bruker Contour GT 系列利用白光干涉來測量納米級至微米級的表面形貌，并且具有業(yè)界zui大視場下的zui高垂直分辨率。儀器具備多種倍率物鏡（1.25倍-100倍），可以表征具有不同表面形狀和結(jié)構(gòu)的樣品。而且在任何放大倍數(shù)下，系統(tǒng)的縱向范圍都能夠達(dá)到亞-埃至毫米級，其靈活性*。Bruker技術(shù)-高亮LED雙光源照明-使測量結(jié)果不管在科研還是工業(yè)環(huán)境中都具有超高的可靠性和可重復(fù)性。Contour GT系列擁有同類產(chǎn)品*的易用性：簡潔的操作界面通過對測量和數(shù)據(jù)獲取過程的簡化大大提高了系統(tǒng)和人力效率；*的可視工作流程工具提供了直觀的分析選項。Contour GT系列可廣泛的應(yīng)用于：精密機械，光伏材料，電子材料，航空航天，光學(xué)材料和科研等領(lǐng)域。

 Bruker Contour GT 系列

Bruker Contour GT 系列利用白光干涉來測量納米級至微米級的表面形貌，并且具有業(yè)界zui大視場下的zui高垂直分辨率。儀器具備多種倍率物鏡（1.25倍-100倍），可以表征具有不同表面形狀和結(jié)構(gòu)的樣品。而且在任何放大倍數(shù)下，系統(tǒng)的縱向范圍都能夠達(dá)到亞-埃至毫米級，其靈活性*。Bruker技術(shù)-高亮LED雙光源照明-使測量結(jié)果不管在科研還是工業(yè)環(huán)境中都具有超高的可靠性和可重復(fù)性。Contour GT系列擁有同類產(chǎn)品*的易用性：簡潔的操作界面通過對測量和數(shù)據(jù)獲取過程的簡化大大提高了系統(tǒng)和人力效率；*的可視工作流程工具提供了直觀的分析選項。Contour GT系列可廣泛的應(yīng)用于：精密機械，光伏材料，電子材料，航空航天，光學(xué)材料和科研等領(lǐng)域。