場發(fā)射掃描電子顯微鏡熱場式，創(chuàng)新的“EM Wizard”界面更加直觀，僅需要“點擊”即可得到完美的圖像；超前的電腦輔助技術將電鏡的操作與控制提升到一個新水平。

SU5000 場發(fā)射掃描電子顯微鏡熱場式

特色

高性能電子光學系統(tǒng)

• 二次電子分辨率: 頂位二次電子探測器(2.0 nm at 1kV)＊
• 高靈敏度: 高效PD-BSD, *的低加速電壓性能，低至100 V成像
• 大束流(>200 nA): 便于高效微區(qū)分析
•  
• 性能優(yōu)異
• 壓力可變: 具有優(yōu)異的低真空(10 -300 Pa)成像性能，配備高靈敏度低真空探測器(UVD)＊
• 開倉室快速簡單換樣(大樣品尺寸: Φ 200 mm x 80 mmH)
• 微區(qū)分析: EDS, WDS, EBSD等等

*：

選配附件

SU5000 場發(fā)射掃描電子顯微鏡熱場式規(guī)格

*1：

減速功能（包含高分辨率頂位二次電子探測器）

*2：

低真空功能（包含5分割半導體探測器）

*3：

空壓機(本地采購)

應用案例

樣品: 氧化鋅粉末
著陸電壓: 1 kV ; 倍率: 120,000x
低電壓下頂位二次電子探測器成像

樣品: PTFE
加速電壓: 3 kV ; 倍率: 13,000x
UVD探測器可在低加速電壓(3 kV)和低真空
(40 Pa) 下獲得高質量圖像