表面絕緣阻抗測(cè)試（SIR）(SurfaceIsolationResistanceTest)　應(yīng)用：離子遷移測(cè)試評(píng)估絕緣電阻性能劣化測(cè)試評(píng)估a

表面絕緣阻抗測(cè)試（SIR）

(Surface Isolation Resistance Test )

　

應(yīng)用：

   

    離子遷移測(cè)試評(píng)估

    絕緣電阻性能劣化測(cè)試評(píng)估

    a.印刷電路板，焊劑，焊錫等電子組裝材料

    b.BGA,CSP等微間距圖形(Fine-pitch Pattern) IC封裝

    c.PDP

    d.電容器，連接器

特色：   

絕緣電阻量測(cè)范圍 1E＋6~ 1E＋13 歐姆

獨(dú)立測(cè)試電壓與量測(cè)電壓分別設(shè)定

應(yīng)力電壓輸出范圍：0~500V

模組化通道設(shè)計(jì)，可獨(dú)立操作使用

由軟件設(shè)定的校正功能

實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)或圖形顯示

結(jié)果分析圖表顯示

　 　 　 　 可以點(diǎn)擊下方方式在線交流：