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簡介：FischerX熒光射線測厚儀，菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE?-X-RAYXDL-210設(shè)計理念

簡介：菲希爾XDLM-pcb220X射線熒光測厚儀FISCHERSCOPEX-RAYXDLM-PCB220是專為測量印制電路板上鍍層厚度及成分分析而設(shè)計的入門級、耐用型測量儀。微聚焦X射線管配合比例接收...

簡介：德國費希爾x射線熒光測厚儀XDL230FISCHERSCOPEX-RAYXDL230是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時...

簡介：德國宏德X射線熒光鍍層測厚儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能*,而且價錢*.,分析鍍層厚度和元素成色同時進行，只需數(shù)秒鐘便能非破壞性地得到準確的測量結(jié)果，甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任...

簡介：XU-100X熒光光譜測厚儀高精尖檢測技術(shù)，搞定企業(yè)品質(zhì)管控！XU-100光譜測厚儀采用下照式C型腔體設(shè)計，搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng)，以及高敏變焦測距裝置，對各種大小異形件都可快...

簡介：高性價比上照式光譜測厚儀，對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點測試或自動逐個檢測大量的小部件

簡介：國nei首chuang、全qiu領(lǐng)xian的多導(dǎo)毛細管技術(shù)，輕松應(yīng)對超小測量點薄涂層和極薄涂層的測量分析，在柔性電路板、芯片封裝環(huán)節(jié)、晶圓微區(qū)的鍍層厚度和成分自動測試分析中盡顯優(yōu)勢主要利用X射線全...

簡介：X熒光ROHS設(shè)備主要由激發(fā)源X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測...

簡介：Fischer測厚儀代理，從1953年至今，菲希爾公司不斷地在涂鍍層測厚、材料分析、微硬度測量和材料測試領(lǐng)域發(fā)展出創(chuàng)新型的測量技術(shù)。

簡介：Fischerscope-XAYXDL230，XDL型鍍層測厚及材料分析儀作為受保護的儀器，型式許可符合德國“DeutscheR?ntgenverordnung-R?V”法規(guī)的規(guī)定。