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簡介：X射線電鍍層厚度檢測儀又稱金屬涂鍍層厚度測試儀，因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則，故市場上普遍使用的都是無損薄膜X射線熒光鍍層測厚儀。X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波。可視光線的波長為0.000001...

簡介：X射線電鍍層厚度分析儀又稱金屬涂鍍層厚度測試儀，因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則，故市場上普遍使用的都是無損薄膜X射線熒光鍍層測厚儀。X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波?？梢暪饩€的波長為0.000001...

簡介：新型FT160XRF鍍層分析儀適用于當(dāng)今微型電子器件的先進(jìn)微焦斑和超薄鍍層分析儀

簡介：FISCHERSCOPEXAN222x射線熒光測厚儀XAN?系列儀器的主要應(yīng)用是金和其他貴金屬合金的涂層厚度測量和分析，該系列產(chǎn)品以其易用性和*的性價比而脫穎而出。過濾器可以根據(jù)要求進(jìn)行調(diào)整，從而...

簡介：菲希爾（Fischer）X射線熒光測厚儀FISCHERSCOPEX-RAYXAN220/222,X射線熒光測量儀，用于快速、無損分析黃金和銀合金：X射線熒光測量儀用于金銀合金快速無損分析及鍍層厚度...

簡介：德國原產(chǎn)FISCHERXDL230x射線熒光測厚儀FISCHERSCOPEX-RAYXDL230是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶...

簡介：FISCHERSCOPE-XDL-BX射線熒光測厚儀FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基于Windows的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測量方向從上往下。XDL-B的特色是特別的距...

簡介：X射線鍍層測厚儀XDAL237在設(shè)計上，F(xiàn)ISCHERSCOPEX-RAYXDAL型儀器和XDLM型儀器相對應(yīng)。區(qū)別在于使用的探測器類型不同。在XDAL上，使用了帕爾貼制冷的硅PIN探測器，從而有...

簡介：ROHS分析儀器-天瑞指令中的“電子電氣設(shè)備”，指的是設(shè)計使用電壓為交流電不超過1000V和直流電不超過1500V的、正常工作需要依賴電流或者電磁場的設(shè)備和實現(xiàn)這些電流與磁場的產(chǎn)生、傳遞和測量的設(shè)...

簡介：BK920分體式涂層測厚儀產(chǎn)品特點：1、采用了磁性和渦流兩種測厚方法，既可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度