測(cè)量原理與應(yīng)用特點(diǎn)測(cè)量方式為射線穿透吸收式測(cè)量，測(cè)量直接物理量為面密度（克重）

測(cè)量原理與應(yīng)用特點(diǎn)

測(cè)量方式為射線穿透吸收式測(cè)量，測(cè)量直接物理量為面密度（克重）。當(dāng)X射線穿透材料時(shí)，射線被材料反射、散射或吸收，導(dǎo)致射線強(qiáng)度有一些的衰減，且衰減量與被穿透材料的面密度呈正相關(guān)關(guān)系。

當(dāng)材料的體積密度固定不變或一致性較高時(shí)，可以通過體積密度換算來測(cè)量材料的厚度（面密度=密度*厚度）。

X射線測(cè)厚儀屬于低能輻射裝置，且射線可通過電源實(shí)現(xiàn)開啟關(guān)閉，一般不需要專門防護(hù)。

X射線測(cè)厚儀一般采用O型掃描架。

X射線測(cè)厚儀結(jié)合激光位移傳感器，采用C型大理石掃描架，衍生出X射線激光測(cè)厚一體機(jī)，可以實(shí)現(xiàn)面密度和厚度同時(shí)測(cè)量，可用于鋰電涂布面密度和頭尾削薄測(cè)量。

性能優(yōu)異的X射線測(cè)量傳感器

X射線測(cè)量傳感器是藍(lán)冰河公司的關(guān)鍵核心技術(shù)，由核探測(cè)專家集20年經(jīng)驗(yàn)傾力打造，具有國(guó)內(nèi)少有的高重復(fù)精度和長(zhǎng)期穩(wěn)定性。

X射線發(fā)射器采用雙閉環(huán)電路控制系統(tǒng)，保證射線強(qiáng)度長(zhǎng)期穩(wěn)定和測(cè)量的高重復(fù)性。

X射線探測(cè)器引進(jìn)德國(guó)前置放大電路技術(shù)，具有高信噪比。

X射線發(fā)射器采用專有狹縫式射線準(zhǔn)直通道和小光斑設(shè)計(jì)，結(jié)合高信噪比探測(cè)器和軟件算法，可提供更高的空間分辨精度和條紋缺陷識(shí)別。

根據(jù)實(shí)際測(cè)量需要，藍(lán)冰河X射線發(fā)射器出射光斑設(shè)計(jì)有5*5mm、Φ9mm和2*12mm三種型號(hào)。

其中，2*12mm射線光斑是藍(lán)冰河專有特色優(yōu)勢(shì)技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)鋰電涂布邊緣削薄區(qū)尺寸測(cè)量。

公司擁有5Kev超軟低能 X射線傳感器技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)鋰電池隔膜、PI膜等纖薄材料面密度/厚度一致性測(cè)量。

藍(lán)冰河X射線面密度儀/測(cè)厚儀技術(shù)特色和強(qiáng)大的功能模塊

華為軟件架構(gòu)師和大數(shù)據(jù)專家量身打造的新一代在線測(cè)量軟件系統(tǒng)，功能更強(qiáng)大，算法更科學(xué)。

可實(shí)現(xiàn)掃描測(cè)量、定點(diǎn)測(cè)量、循環(huán)定點(diǎn)測(cè)量，掃描和定點(diǎn)模式任意切換。

單次/多次輪廓線、分區(qū)線、趨勢(shì)線等豐富的測(cè)量曲線實(shí)時(shí)呈現(xiàn)、多種品質(zhì)數(shù)據(jù)顯示。

基于數(shù)據(jù)庫(kù)的海量全價(jià)值數(shù)據(jù)excel格式存儲(chǔ)，歷史數(shù)據(jù)查詢和追溯，歷史曲線復(fù)顯。

專業(yè)級(jí)SPC統(tǒng)計(jì)分析，自動(dòng)生成品質(zhì)卷報(bào)，并可根據(jù)客戶需求定制。

多種過程控制解決方案，過程實(shí)時(shí)監(jiān)控，五線品質(zhì)控制，多重預(yù)警和報(bào)警，超限打標(biāo)。

支持實(shí)現(xiàn)閉環(huán)自動(dòng)控制，可對(duì)戶MES系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)多機(jī)架同點(diǎn)對(duì)位跟蹤測(cè)量。

自主研發(fā)數(shù)據(jù)采集卡與控制板卡，實(shí)時(shí)通信系統(tǒng)與CANOPEN總線通信傳輸，保證高速測(cè)量響應(yīng)。

更強(qiáng)易用性和友好人機(jī)界面，一鍵智能操作。

性能參數(shù)

*上述數(shù)據(jù)基于鋰電池極片涂布面密度/厚度一致性測(cè)量數(shù)據(jù)。

應(yīng)用領(lǐng)域

塑料薄膜、無紡布、金屬箔材、橡膠等各種片材、 卷材或涂層的面密度（厚度）一致性在線測(cè)量與控制。